冷熱沖擊試驗儀器常用于半導體行業(yè)及半導體產(chǎn)品、材料、配件做在瞬間下經(jīng)*高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。

冷熱沖擊試驗儀器標準型型號（另：可根據(jù)客戶要求定做）：

AP-TS--80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

AP-TS--150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

AP-TS--250 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

AP-TS-S-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

外箱尺寸：以實際尺寸為標準。

高溫槽預熱溫度范圍：+60℃～200℃；

升溫時間： +60℃～200℃≤30min；

低溫槽預冷溫度范圍： -75～-10℃；

降溫時間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時間為低溫槽單獨運轉時的性能﹚

試驗方式： 氣動風門切換

溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

溫度偏差： ±2.0℃

溫度波動度： ±0.5℃

溫度恢復時間： ≤5分鐘

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